Microscópio Eletrónico de Varrimento, SEM Hitachi S - 2700
Estudo da superfície de materiais sólidos e sua morfologia interior.
- Resolução em imagem de eletrões secundários: 4,0 nm (30 kV).
- Microscópio com filamento de tungsténio, com voltagem de aceleração de 0,2 a 30 kV, ampliação de 5x a 300 000x.
Microscópio Eletrónico de Varrimento, VP SEM Hitachi S - 3400N
Estudo da superfície de materiais heterogéneos orgânicos e inorgânicos e a sua morfologia. No modo de pressão variável permite o estudo de amostras húmidas, oleosas e/ou não condutoras sem revestimento metálico.
- Resolução em imagem de eletrões secundários: 3,0 nm (30 kV), 10 nm (3 kV).
- Resolução em imagem de eletrões retrodifundidos: 4,0 nm (30 kV).
- Microscópio com filamento de tungsténio pré-centrado, com uma voltagem de aceleração de 0,3 a 30 kV, ampliação de 5x a 300 000x e modo de observação em pressão variável (VP-SEM) compreendido entre os 270 Pa e 6 Pa.
- Estágio amovível arrefecido por efeito Peltier Ultra Coolstage da marca Deben com uma amplitude térmica de -50°C a 50°C.
- Tem acoplado ao microscópio um detetor de espectrometria de energia dispersiva (EDX) XFLASH, modelo 5010, com resolução de 129 eV em Kα de Mn, da Bruker com software de aquisição e análise de dados Quantax ESPRIT. Este detetor permite análises elementares qualitativamente e quantitativamente de elementos químicos a partir do carbono (inclusive), bem como mapas de distribuição elementar.